Алюминиевая подложка для электронной микроскопии

Описание:

Ультрачистые алюминиевые подложки стандартного размера для сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). Изготовлены из высокочистого алюминия с механической обработкой поверхности. Идеально подходят для фиксации образцов при исследованиях в электронных микроскопах. Гарантируют надежное крепление и минимальный фон при анализе. Основные характеристики: диаметр 15 мм, высота 9,5 мм. Стандартная поверхность после токарной обработки обеспечивает хорошую адгезию образцов. Применяются в материаловедении, нанотехнологиях и биологических исследованиях.

Применение:

Цилиндрические подложки предназначены для использования со сканирующими электронными микроскопами (СЭМ), включая модели JEOL и ISI. Параметры: диаметр ⅝» (15 мм), высота ⅜» (9,5 мм). Материал: ультрачистый алюминий со стандартной токарной обработкой поверхности. Подложки обеспечивают надежное крепление образцов для получения высококачественных изображений. Применение: подготовка образцов для СЭМ-анализа в научных исследованиях, контроле качества материалов, изучении морфологии поверхности. Благодаря стандартным размерам совместимы с большинством держателей микроскопов. Изготовлены НПО ЭкоТек в соответствии с требованиями стандартов электронной микроскопии.