Держатель FIB для ТЕМ-ламелей EcoTech

Описание:

Держатель FIB (Focused Ion Beam) предназначен для фиксации образцов, смонтированных на стандартном штифте диаметром 12,7 мм (½ дюйма), при проведении процедур фрезерования и вырезания в FIB. Удобно размещает две сетки FIB вблизи образца для монтажа подготовленных ТЕМ-ламелей на сетке FIB для последующей визуализации в ТЕМ. Экономичное решение, совместимое со всеми FIB/СЭМ системами, поддерживающими держатели на штифтах, включая оборудование НПО ЭкоТек. Для систем JEOL и Hitachi требуется адаптер для штифтового крепления. Размеры: 22,4 x 12,7 x 11,7 мм (0,88″ x 0,5″ x 0,46″). Тип штифта: Стандартный 3,2 мм (⅛ дюйма). Материал: Алюминий вакуумного класса с латунными винтами. В комплекте отвертка Philips №0. Изделие производства НПО ЭкоТек.

Применение:

Держатель используется для фиксации образцов при работе с ионно-лучевыми станциями (FIB) в сочетании с растровой электронной микроскопией (СЭМ). Основные применения: подготовка образцов методом FIB-фрезерования, вырезание и перенос участков материалов (lift-out), а также монтаж ультратонких срезов (ламелей) для просвечивающей электронной микроскопии (ТЕМ). Совместим с широким спектром FIB/СЭМ систем, включая оборудование НПО ЭкоТек. Для систем JEOL и Hitachi требуется адаптер. Держатель позволяет одновременно размещать до двух сеток для TEM-анализа, оптимизируя процесс подготовки образцов и повышая производительность лаборатории.