Держатель образцов для FIB

Описание:

Держатель для подготовки образцов методом фокусированного ионного пучка (FIB). Габаритные размеры: 36,5 × 12,7 × 11,6 мм. Контактный штырь: стандартный диаметр 3,2 мм. Материал: вакуумный алюминий с латунными винтами. В комплект входит отвертка Philips №0. Производство НПО ЭкоТек. Устройство предназначено для надежной фиксации образцов в процессе ионно-лучевой обработки и последующего переноса тонких срезов на сетки для просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). Конструкция обеспечивает совместимость с широким спектром FIB/SEM систем ведущих производителей.

Применение:

Держатель образцов для FIB обеспечивает надёжное крепление образца на двух стандартных штырях диаметром 12,7 мм для операций ионного фрезерования и lift-out процедур. Удобно размещает две FIB-сетки вблизи образца для монтажа подготовленных ПЭМ-ламелей на сетке FIB для последующей визуализации в просвечивающем электронном микроскопе. Экономичное решение совместимо со всеми FIB/SEM системами, поддерживающими штыревые держатели, включая оборудование FEI, ZEISS и Tescan. Для систем JEOL и Hitachi требуется переходник для штыревого крепления. Продукция НПО ЭкоТек соответствует требованиям вакуумных технологий и обеспечивает стабильность позиционирования в процессе высокоточных микроскопических исследований.